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德國(guó)徠卡舉辦SEM/EBSD樣品制備新技術(shù)講座

瀏覽次數(shù):3059 發(fā)布日期:2012-5-23  來(lái)源:本站 本站原創(chuàng),轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處

對(duì)于軟金屬材料、多層膜材料、微電子及復(fù)合材料等,樣品切割/拋光常常是一項(xiàng)難以逾越的技術(shù)障礙。因此要獲得理想的SEM/EBSD分析結(jié)果也變得難上加難。


現(xiàn)在借助德國(guó)徠卡公司的最新EMTIC3X三離子束切割這項(xiàng)最新技術(shù),可以快速高效“切割”樣品,無(wú)應(yīng)力層,無(wú)涂抹效應(yīng),可暴露樣品內(nèi)部真實(shí)結(jié)構(gòu)信息,以便于SEM觀(guān)察,或EBSD等分析。

此次技術(shù)介紹及培訓(xùn)會(huì)時(shí)間為2012年6月7日-8日,在重慶大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院召開(kāi),依托重慶大學(xué)微觀(guān)組織與結(jié)構(gòu)分析中心技術(shù)支持,旨在拓展SEM/EBSD工作者在樣品制備方面的技術(shù)和技能,幫助大家找到更合適的樣品制備方法。

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