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濱松將于質譜學術大會發(fā)布質譜新一代器件技術報告

瀏覽次數:8439 發(fā)布日期:2018-11-23  來源:本站 本站原創(chuàng),轉載請注明出處

由中國質譜學會(中國物理學會質譜分會)、中國化學會質譜分析專業(yè)委員會和中國儀器儀表學會分析儀器分會質譜儀器專業(yè)委員會聯(lián)合主辦的“2018年中國質譜學術大會”(CMSC 2018),將于2018年11月23-26日在廣州市東方賓館舉辦。

本次大會以“中國質譜新時代”為主題,覆蓋內容包括質譜基礎與理論、質譜儀器研發(fā)、質譜新方法新技術、生命科學與醫(yī)學、材料與能源、環(huán)境與食品、地球科學與資源、公共安全等。

隨著器件、材料學、工業(yè)水平的提高,質譜儀的技術含量和創(chuàng)新一直在進化;與此同時,人們對科學的探索,檢測的下限越來深化,應用的場景也不限于條件理想的實驗室,走向了人類工業(yè)的細分行業(yè),走向更加苛刻和復雜的場景。這就對質譜儀的組件,材料提出了新的,更高的,甚至不可預測的要求。

濱松擁有65年光電探測器的研制經驗,享譽世界,而在質譜用探測器技術的耕耘也已有40年的歷史,可為質譜提供離子化光源、電子倍增器(EM)、微通道板(MCP)等產品。而在2018年,也陸續(xù)推出了一系列用于質譜電離和探測部分的新品,為質譜儀器的發(fā)展帶來了新的可能。

 

 

質譜用器件.jpg


在本次大會的“質譜儀器研發(fā)”分論壇中,濱松帶來《新一代器件提高質譜探測的性能》的技術報告(11月24日,14:50-15:05,2號樓8層東方廳)。

 

本報告將圍繞濱松最新發(fā)布的多項質譜用光電探測技術,從探測器角度為解決目前多個質譜儀研發(fā)技術難題提供了更多可能。報告將展示包括高氣壓下(達1Pa)仍可高增益正常工作的柵網陽極結構第三代MCP、大幅簡化和縮短MALDI-TOF-MS前處理時間的鋁膜輔助電離基板(DIUTHAME)、雪崩二極管機構的MCP、通道式電子倍增器等。詳細的新品信息及大量的實驗結果和數據將集中在報告中體現。

 

新品.jpg

 

而關于柵網陽極結構第三代MCP和鋁膜輔助電離基板(DIUTHAME),我們也將帶來兩篇精彩的論文,于“質譜儀器研發(fā)”墻報區(qū)展示(11月24日,一層B廳)

論文編號:18110616 

Development of the Triode-type MCP-based Compact Ion Detector for High Pressure Operation in Miniature Mass Spectrometer 
 

論文編號:18110617

Study for new imaging mass spectroscopy by using new ionization method (DIUTHAME)

同時,濱松也將把2018年發(fā)布的所有新品,以及質譜用經典的離子化光源及探測器于展臺中進行展示(B12),歡迎蒞臨參觀、溝通。

相關公司:濱松光子學商貿(中國)有限公司
聯(lián)系電話:400-074-6866 / 010-65866006
E-mail:hwj@hamamatsu.com.cn


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